应用案例｜深视智能Solis B0555 Pro相机在单晶、多晶荧光屏光致发光成像领域应用

试验背景

单晶与多晶荧光屏光致发光成像，存在弱信号、高动态的典型复杂工况，是检验成像设备荧光成像综合性能的有效测试场景，也是目前光学材料科研中高频应用的测试方式。但是受限于普通相机受噪声、动态范围、灵敏度的硬件限制，无法精准呈现荧光屏真实发光状态。

为针对性解决该试验难题，本次实验采用深视智能高性能旗舰产品Solis B0555 Pro sCMOS相机，真实验证设备在弱光信号捕捉、噪声抑制、大范围动态成像上的硬核实力，切实佐证该相机可适配此类高精度荧光成像测试，为同类光致发光科研实测提供可靠的设备选型参考。

图/试验实拍图

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试验过程

本次试验在光学暗室环境下完成，规避杂散光干扰。

首先完成光学测试平台搭建与校准，固定激光激发模组与成像工位，确保光路稳定、无机械震动干扰。完成光路校准与光源稳定后，搭载深视智能Solis B0555 Pro sCMOS相机，微调成像焦距、视场范围及采集参数，适配荧光微弱信号采集与大动态成像需求。

待设备工况稳定后，依次完成单晶、多晶荧光屏的成像采集工作。本次对比测试机型为qCMOS。

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对比效果

分别对比Solis B0555 Pro和qCMOS两款相机在单晶硅和多晶硅成像中的实际效果。

不难发现，Solis B0555 Pro 凭借0.002e-/pixel/s@-30℃暗电流和0.29e-的读出噪声，无论是在信号获取和噪声抑制方面都达到或超越同级qCMOS水平。

单晶硅

曝光时间5s

多晶硅

曝光时间20s

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试验结论

深视智能Solis B0555 Pro 科学相机凭借优秀硬件架构、亚电子级超低读出噪声与深度真空制冷系统，可极致抑制成像暗电流与环境杂噪，大幅提升弱光成像信噪比，精准捕捉单晶荧光屏微弱的发光波动与细微信号差异，良好适配低能量激发下的高精度观测需求，本次测试效果达到预期效果。